中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所-测试分析平台
电子显微镜实验室
场发射透射电子显微镜
场发射环境扫描电子显微镜
钨灯丝扫描电子显微镜
制样设备
冷场发射扫描电子显微镜
扫描探针显微镜实验室
Veeco Multimode 原子力显微镜
Vecco Dimension3100原子力显微镜
纳米压痕仪
纳米拉伸仪
激光共聚焦显微镜
Dimension ICON
纳米激光粒度仪
深紫外扫描近场光电探针系统
结构分析实验室
高分辨X射线衍射仪
显微镜
纳米激光粒度仪
Zeta电位分析仪
MD2000D型椭圆偏振光谱仪
粉末X射线衍射仪
光电性能分析实验室
半导体参数测试系统
霍尔测量系统
纳伏表、皮安表、锁相放大器
SUSS PM8探针台
红外傅里叶
共聚焦拉曼
太阳光伏测试系统
光致发光测试系统
激光共聚焦显微镜
积分球
计算中心
地址:苏州工业园区独墅湖高教区若水路398号(区号:0512 邮编:215125)
电子显微镜实验室: 扫描电镜(62872632)透射电镜(62872633)
光电实验室:62872594 2593
扫描探针实验室:62872550
结构分析实验室:62872551
计算中心:62872616
MD2000D型椭圆偏振光谱仪
仪器名称:
MD2000D型椭圆偏振光谱仪
型 号:
MD2000D
生产厂家:
J.A.Woollam公司
主要配置:
配有自动相位补偿器
性能指标:
1.光谱有效范围:193-1690nm连续可调
2.入射角范围:手动角45-90˚,自动角40-90˚;
3.光谱分辨率:0.5 nm
4.配有自动相位补偿器,实现Δ在0~360o范围内的准确测量
主要用途:
1 各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析,包括复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数、反射率等指标;
2 测量单层膜和多层薄膜材料的结构、厚度、表界面粗糙度;
3 光学梯度薄膜的梯度特性及结构。
测量对象:
测量对象包括:金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、薄膜材料,并可应用于各向异性材料如非立方晶体、液晶和厚度不均匀的样品。
联系人:张志强
电话:0512-62872594
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