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透射电镜TEM离轴暗场像 |
【发稿时间】：2016/5/31 |
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样品为直径超过150纳米的棒状核壳结构，由于样品厚度较大，成像噪音很强，普通的TEM明场像和STEM暗场像均不能证实这一结构。通过选用纳米棒的部分衍射点对样品进行离轴暗场高分辨成像，有效提高了图像信躁比，证实了纳米线的核壳结构特征，并对ZnO核心区域实现了高分辨成像。这一方法对解决厚度较大（100纳米以上）纳米材料的高分辨成像问题提供了一定的借鉴。 |
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