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电子显微镜实验室:
扫描电镜(62872632)透射电镜(62872633)
光电实验室:62872594 2593
扫描探针实验室:62872550
结构分析实验室:62872551
计算中心:62872616
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半导体材料的检测与分析 |
【发稿时间】:2016/6/14 |
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在共聚焦荧光显微镜上可以直观探测到,LED(LD)量子阱结构中的损伤、缺陷。
图a:观测某量子阱材料有源区发光均匀性,
该样品发光不均匀,有地方亮;有地方暗;
六边形暗斑为缺陷,V形坑(V-pits)。 图b:观测到不发光的暗斑为量子阱结构退化、热分解所引起的缺陷、阱层结构损坏。 |
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