| 9月7日下午，苏州纳米所与苏州独墅湖科教创新区、苏州工业园区企业发展服务中心联合举办的“‘独墅一帜&园易联’走进中科院苏州纳米所半导体材料与器件测试分析专场”活动顺利举行。苏州独墅湖科教创新区党工委委员、管委会副主任赵桢，苏州工业园区企业发展服务中心产业促进处副处长王韵，苏州纳米所副所长徐科、技术转移中心主任冀晓燕出席活动，共有来自区内半导体产业相关企业、科研院所、投资机构的40余名代表参加了本次活动。
活动中，徐科介绍了苏州纳米所测试分析平台的基本情况，平台内多位技术专家依次作了《扫描探针显微术（SPM）及其在半导体材料与器件表征中应用》《半导体材料与器件的光电表征技术及应用》《X射线衍射在半导体材料结构表征中应用》《聚焦离子束（FIB）及透射电子显微术（TEM）在半导体材料与器件微结构表征中应用》四个主题报告，全面而又深入地介绍了测试分析平台内先进的分析表征设备，丰富的表征技术与测试手段，可以为纳米材料和器件、生物医学、仿生、纳米安全等各个科研方向提供一站式的测试、咨询与培训等科技支撑服务。
本次活动重点围绕第三代半导体产业技术创新和发展热点，面向园区半导体领域的院所、企业集中展示苏州纳米所第三代半导体领域前沿应用技术和配套完善的测试分析平台，进一步加深企业对苏州纳米所的了解，搭建双方沟通的桥梁，促进区内第三代半导体创新资源进一步流动融合，实现合作共赢。
 徐科介绍测试分析平台
 赵祯致辞
 专家报告
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