椭圆偏振光谱仪 运行通知
仪器名称：
MD2000D型椭圆偏振光谱仪
型 号：
MD2000D
生产厂家：
J.A.Woollam公司
主要配置：
配有自动相位补偿器
性能指标：
1.光谱有效范围：193-1690nm连续可调2.入射角范围：手动角45-90˚，自动角40-90˚；3.光谱分辨率：0.5 nm4.配有自动相位补偿器，实现Δ在0～360o范围内的准确测量
主要用途：
1 各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析，包括复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数、反射率等指标；
2 测量单层膜和多层薄膜材料的结构、厚度、表界面粗糙度；
3 光学梯度薄膜的梯度特性及结构。
测量对象：
测量对象包括：金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、薄膜材料，并可应用于各向异性材料如非立方晶体、液晶和厚度不均匀的样品。
联系人： 邱永鑫 email:yxqiu2008@sinano.ac.cn tel: 0512-62872545
