"透射电镜样品的制备技术"讲座与学习班
测试分析平台邀请到加州大学Irvine分校电镜及材料分析中心的郑建国教授来所专题讲授透射电镜样品的制备问题，并进行示范。他将讲解三种制样办法：(1)粉末法；(2)薄膜材料的顶视（Plan-View）与剖面(Cross-Section)样品的制备；(3)聚焦离子束（FIB）实现定点电镜制样方法。大家熟知，优秀的电镜结果往往来源于优秀的样品；我们将安排讲座与实验相结合的办法，由郑博士以其多年的电镜经验，结合各种实例与电镜手法结合给予讲授，现场解答各种电镜问题。欢迎所内外希望了解和掌握电镜制样技术的各位届时拨冗参加。
【讲座时间与地点】5月28日（星期一）下午2：00，A718
【示范与问题解答】5月28/29日（星期一、二）电镜室制样间
透射电镜样品的制备技术
（郑建国 美国加州大学尔湾分校）
透射电镜实验的成败很大程度上取决于电镜样品的质量。一个好的电镜样品应该具备以下特征：1)反映原来样品的特征；2)对电子束透明且薄区面积足够大；3)样品取向合适；4)制样过程引起的损伤足够小。
本讲座将介绍几种常见的制样技术，包括粉末法，薄膜材料透射电镜样品制备的使用方法（Plan-View 与 Cross-section），三是抛光法及聚焦离子束方法，并分析各个重要步骤可以引起的效应和对最终电镜样品的影响。
粉末法是制备纳米颗粒电镜样品的重要方法。其过程包括将纳米颗粒制成浓度合适、均匀的悬浮液。然后。将一滴悬浮液滴在支撑薄膜上，待其干燥后即可使用。
电镜样品制备的使用方法可用来制备块状材料和薄膜材料的电镜样品。其过程包括切割、对粘、机械减薄、挖坑及离子减薄。其制备时间较长，但这是制备大面积薄区电镜样品的重要方法。
三足抛光法是借助三足抛光器制备块状和减薄材料或减少离子束造成的损伤，但对操作者的技术要求较高。
聚焦离子束法是今年来发展起来的制备薄膜材料电镜样品的重要手段，可选择特定区域提取样品，大大提高电镜样品的成功率并缩短制备周期。其缺点是离子束对样品有损伤及入射离子对样品有污染。
如果制备一个成功的电镜样品，操作者需要综合考虑各种方法的利弊及对电镜样品的要求，选择合适的方法，控制好每一个关键步骤。
