报告主题： Attolight阴极荧光设备及分析技术

                 Attolight CL系统是当前市场上唯一能实现定量测量不同样品的阴极荧光发光的系统。它独特的发现超痕量杂质，和发现某些在其他成像模式下不可见的晶体缺陷的能力，为研究及开发半导体材料、荧光粉、陶瓷、岩石和玻璃提供了新的可能。Attolight CL系统自带有集成了光镜的扫描电子显微镜。创新地将光学物镜嵌入在扫描电镜的电子物镜，使两者的视场相互匹配，使信号收集效率与传统SEM add-on CL相比提高了1000倍。获取阴极荧光图从未如此简单：无需调准光路，光镜的存在帮助完成了样品定位。系统经过优化，在不牺牲扫描电镜性能的同时获得了优越的阴极荧光性能。它提供一个优秀的光学光圈 (f/0.5)，和在整个视场范围内恒定的高光子收集效率。同时，它工作在低电子束的能量范围内 (3-10kV)，可获得更高分辨的阴极荧光图。可选配时间分辨阴极荧光 (TRCL) 模式，10 ps的时间分辨率可有助于实现载流子动力学和寿命的研究。


报告人：Dr. Samuel Sonderegger，Attolight AG， CEO

           Samuel 毕业于里昂高等师范学院(法国)，在瑞士联邦理工学院( EPFL )获得硕士和博士学位。他主要从事半导体光学特性研究。在此期间，发展了Attolight快速阴极荧光技术，并用该技术增进了对氮化物半导体材料的光学特性的理解。毕业后，Samuel决定与JeanBerney共同创立Attolight公司，并领导公司业务的发展。


报告时间地点：4月27日（周五）上午9：30, E楼321会议室




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